Empresario individual
José Luis Crespo Cepeda (Quantum Fracture)
NIF ***2868**
Adjudicaciones
3
Con adjudicatario conocido
Importe adjudicado
14.330,00 €
Sin IVA
Baja media
16,67 %
Sobre el presupuesto base
Ofertas por adjudicación
2
Media de licitadores
Licitaciones abiertas que encajan con esta empresa
Las adjudicaciones de esta empresa no incluyen códigos CPV. Sin esa clasificación no podemos identificar oportunidades afines con suficiente información.
Buscar licitaciones por actividadEvolución por año
| Año | Adjudicaciones | Importe adjudicado | Baja media |
|---|---|---|---|
| 2022 | 1 | 3000,00 € | 50 % |
| 2021 | 2 | 11.330,00 € | 0 % |
Historial de adjudicaciones
- Baja media
- 16,67 %
- Baja mediana
- 0 %
Importes adjudicados
- Menos de 50.000 €3
- 50.000–250.000 €0
- 250.000–1.000.000 €0
- 1.000.000 € o más0
Principales clientes públicos
- Dirección del Centro Español de Metrología1 · 11.000,00 €
- Oficina Española de Patentes y Marcas, O.A.1 · 3000,00 €
- Rectorado de la Universidad de Murcia1 · 330,00 €
Índice de éxito
La fuente no publica la lista de licitadores. Estos datos describen solo sus adjudicaciones, no una tasa de éxito.
Competencia media en sus adjudicaciones (mediana de ofertas): 2
Adjudicaciones con una sola oferta: 33 % (3 con número de ofertas)
Competidores frecuentes
Empresas adjudicatarias en los mismos organismos y divisiones CPV durante los últimos 24 meses. La coincidencia no indica que presentaran ofertas en los mismos concursos.
No hay coincidencias recientes.
Últimas adjudicaciones (3)
Adjudicada: 20/05/2022 · Baja: 50 % · Ofertas: 2
Cerrada · Publicada el 25/05/2022 · Presupuesto: 6000,00 € · Oficina Española de Patentes y Marcas, O.A.
Adjudicada: 14/10/2021 · Baja: 0 % · Ofertas: 1
Cerrada · Publicada el 11/04/2022 · Presupuesto: 330,00 € · Rectorado de la Universidad de Murcia
- Servicio de grabación de videos divulgativos11.000,00 €
Adjudicada: 23/07/2021 · Baja: 0 % · Ofertas: 3
Cerrada · Publicada el 12/01/2022 · Presupuesto: 11.000,00 € · Dirección del Centro Español de Metrología